判斷題雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
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最新試題
斜探頭前部磨損較多時(shí),探頭的K值將變小。
題型:判斷題
穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū),但小缺陷易漏檢。
題型:判斷題
曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。
題型:判斷題
串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。
題型:判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。
題型:判斷題
橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
題型:判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。
題型:判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題
實(shí)際探傷中,為提高掃查速度,減少雜波的干擾,應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
題型:判斷題
測定組合靈敏度時(shí),應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進(jìn)行測試。
題型:判斷題