實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。