測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。