判斷題UV-C不可以用于熒光磁粉檢測(cè)。
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磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
題型:判斷題
采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。
題型:判斷題
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
題型:判斷題
相關(guān)顯示是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。
題型:判斷題
一般說(shuō)來(lái),進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
題型:判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型:判斷題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
題型:判斷題
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
題型:判斷題