A.儀器下放井底前先在測(cè)量井段上部測(cè)量
B.儀器下放井底前先在測(cè)量井段下部測(cè)量
C.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段上部測(cè)量
D.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段下部測(cè)量
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A.10
B.20
C.25
D.50
A.1500
B.2000
C.2500
D.4000
A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
A.幅度變小,半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小,半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大,半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大,半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過(guò)快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過(guò)快影響曲線幅度,但對(duì)深度沒(méi)有影響
最新試題
微電阻率電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰,與聲成像具有()。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
在()的概念中,沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是:沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素,沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些?
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。
非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些?