底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

儀器水平線性影響（）。

超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。