A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對(duì)
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A.橫波檢測(cè)薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷，變形橫波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷，反射縱波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍(lán)姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
A.將縱波斜入射至薄板中激勵(lì)蘭姆波是目前最常用的方法
B.蘭姆波是在整個(gè)板厚范圍內(nèi)傳播的
C.蘭姆波的相速度是隨頻率、板厚、和蘭姆波模式三個(gè)因素而變化的
D.以上都是
A.用脈沖波激勵(lì)蘭姆波時(shí)，蘭姆波是以群速度傳播的
B.蘭姆波的群速度是隨頻率、板厚、和蘭姆波模式三個(gè)因素而變化的
C.蘭姆波有對(duì)稱型和反對(duì)稱型兩種基本形式
D.以上都是
A.全面掃查
B.格子線掃查
C.邊緣掃查
D.以上都可以
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。