A.選擇合適的水程距離
B.選擇合適的探頭頻率
C.選擇合適的偏心距離
D.選擇合適的晶片尺寸
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A.接觸法單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法雙探頭
D.水浸法平探頭
A.薄壁管的檢測是以周向橫波檢測為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應(yīng)采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會引起折射角的擴散,應(yīng)使用小晶片探頭
D.以上都對
A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對
A.橫波檢測薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
最新試題
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
單探頭法容易檢出()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。