圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷B探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
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圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷A探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個測試項目()
A.折射角
B.入射點
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測示意圖。如果按聲程調(diào)整時基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β,則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個公式計算()
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置對應(yīng)的聲束是 ()
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測示意圖,圖中缺陷位置在哪個跨距內(nèi)()
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
最新試題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()是影響缺陷定量的因素。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。