A.不同埋深的平底孔試塊
B.置于水中的鋼球
C.不同埋深的橫通孔試塊
D.以上都是
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A.最有效的超聲能量發(fā)生器之一
B.最有效的超聲能量接收器之一
C.不溶于水
D.可經(jīng)受高達(dá)700℃的高溫
A.顯示器的刷新頻率
B.采樣頻率
C.存儲深度或字長
D.以上都是
A.便于信號的存儲、記錄和再現(xiàn)
B.顯示器不需要傳統(tǒng)的示波管
C.便于小型化
D.以上都是
A.對晶片的振動(dòng)起阻尼作用
B.對晶片起支撐作用
C.吸收晶片背面發(fā)射的超聲波
D.以上都是
A.作為探測時(shí)的基準(zhǔn)，并為評價(jià)工件中的缺陷與已知反射體進(jìn)行比較；
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具；
C.為檢出某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證；
D.提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷提供保證。
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。