A.最下層板的孔周圍的裂紋
B.最上層板的孔周圍的裂紋
C.使聲波導(dǎo)入的那層板的孔周圍的裂紋
D.任何一層板的孔周圍的裂紋
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
A.能夠清晰分辨孔壁信號和起始于孔壁的小裂紋信號
B.能夠獲得準(zhǔn)確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號
D.以上都是
A.盡可能提高儀器增益;
B.利用被檢件的底面回波
C.利用被檢件的側(cè)壁回波;
D.利用被檢件的孔壁回波。
A.掃查區(qū)域有過多的耦合劑;
B.斜楔磨損;
C.探頭掃查位置或方向偏移;
D.以上都有可能。
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。