A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
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A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
A.能夠清晰分辨孔壁信號(hào)和起始于孔壁的小裂紋信號(hào)
B.能夠獲得準(zhǔn)確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號(hào)
D.以上都是
A.盡可能提高儀器增益；
B.利用被檢件的底面回波
C.利用被檢件的側(cè)壁回波；
D.利用被檢件的孔壁回波。
A.掃查區(qū)域有過(guò)多的耦合劑；
B.斜楔磨損；
C.探頭掃查位置或方向偏移；
D.以上都有可能。
A.避免漏掉任何顯示信號(hào)；
B.避免漏掉報(bào)警閘門(mén)范圍內(nèi)的任何顯示信號(hào)；
C.避免漏掉觸發(fā)報(bào)警的任何顯示信號(hào)；
D.更合理的確定靈敏度水平。
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。