單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波波垂直入射探傷中，之所以存在上盲區(qū)的原因主要是（）
A.近場效應(yīng)影響
B.儀器的阻塞時(shí)間影響
C.探頭的始波占寬度影響
D.以上都是
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3.單項(xiàng)選擇題超聲波檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
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（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題