判斷題超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關(guān)系,頻率越高,晶片越厚。
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縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項選擇題