單項選擇題下面有關(guān)探頭尺寸選擇的敘述,正確的是()
A.壓電晶片的尺寸大,則輻射功率大,可檢測距離大,指向性好,檢測效率較高
B.壓電晶片的尺寸大,則近場長度大,始波占寬較大,近表面分辨率降低,雜波多,信噪比低,遠場分辨率降低
C.壓電晶片尺寸小,則近場長度短,始波占寬小,近表面分辨率高,雜波少,信噪比高,遠場分辨率好
D.壓電晶片尺寸小,則輻射功率小,可檢測距離小,指向性差,檢測效率低
E.以上都對
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1.單項選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有()
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護膜
2.單項選擇題對于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是()
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
3.單項選擇題軟保護膜探頭使用于()的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
4.單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
5.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是()
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
題型:單項選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
題型:單項選擇題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項選擇題