A.利用始脈沖至1次底波之間的距離;
B.利用界面波至1次底波之間的距離;
C.利用一次底波和二次底波之間的距離;
D.以上都可以。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.直射縱波無法檢測孔周圍裂紋,只能采用橫波檢測;
B.由于往返透射率較高,因此多數(shù)采用45º橫波檢測;
C.某種情況下,橫波可以透過上層板發(fā)現(xiàn)第二層結(jié)構(gòu)裂紋;
D.以上都是。
A.接近比較困難,需要專用輔助工具完成檢測
B.往往需要專項(xiàng)培訓(xùn)才能實(shí)施檢測
C.熟練的操作和豐富的經(jīng)驗(yàn)是必要的,否則可能出現(xiàn)漏檢或誤判
D.以上都是
A.材料的聲速低
B.材料的晶粒組織粗大
C.表面粗糙且不平整
D.以上都有可能
A.了解凸耳的結(jié)構(gòu)、受力狀況、缺陷的位置是重要的
B.參考試塊的尺寸和形狀應(yīng)與檢測部位相同
C.調(diào)整靈敏度時(shí),應(yīng)設(shè)置報(bào)警閘門
D.以上都是
A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。