A.側(cè)磨形成的橫向裂紋
B.擦傷下核傷
C.焊補(bǔ)層下核傷
D.剝離掉塊下核傷
E.魚(yú)鱗形成的傷損
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A.保證探頭主聲束能掃查到焊筋部位
B.保證探頭主聲束能掃查到焊縫中心
C.保證對(duì)軌底邊緣能得到全面的掃查
D.最大探測(cè)距離的折射角
E.最大探測(cè)距的反射角
A.縱向掃查
B.直線掃查
C.橫向掃查
D.格子掃查
E.點(diǎn)掃查
A.靈敏度
B.超聲波的強(qiáng)弱
C.聲束軸線的方向
D.一次波的聲程
E.二次波的探測(cè)范圍
A.半擴(kuò)散角減小
B.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加
C.波束指向性好
D.半擴(kuò)散角增大
E.超聲波能量集中
A.直探頭
B.縱波斜探頭
C.橫波斜探頭
D.表面波探頭
E.雙晶探頭等
最新試題
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。
探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動(dòng)，稱(chēng)為擺動(dòng)掃查。
通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度，以最大回波顯示的刻度來(lái)確定（）。
探傷掃查過(guò)程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測(cè)面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個(gè)面，甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí)，如果重復(fù)頻率過(guò)高，儀器可能會(huì)產(chǎn)生（）
探傷中遇鋼軌焊補(bǔ)時(shí)，執(zhí)機(jī)人員必須“站?？床ā痹诒３炙砍渥愕那闆r下，探傷靈敏度應(yīng)提高（）。
使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會(huì)導(dǎo)致（）。
垂直法局部掃查即探頭在整個(gè)面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動(dòng)，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。
核對(duì)軌頭剝離層下的傷損一般采用（）。