A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
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A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來物對(duì)聲波衰減有明顯作用
C.通過手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
A.檢測(cè)技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測(cè)過程的操作是否正確
C.缺陷評(píng)定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
B.為了準(zhǔn)確測(cè)量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測(cè)量時(shí),需要了解被測(cè)件的聲速
D.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。