A.檢測技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測過程的操作是否正確
C.缺陷評定方法是否正確
D.以上都是
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A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時(shí),需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
單探頭法容易檢出()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。