判斷題2.5P10×12K2斜探頭,其晶片發(fā)射的聲波是橫波。
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用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
題型:單項選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
題型:單項選擇題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
題型:單項選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項選擇題