單項(xiàng)選擇題一個(gè)垂直線性好的探傷儀,熒光屏上波幅從80%處降至5%時(shí),應(yīng)衰減()。
A、6dB
B、8dB
C、12dB
D、24dB
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1.單項(xiàng)選擇題缺陷所反射的聲能量大小取決于()。
A、缺陷大小
B、缺陷取向
C、缺陷類(lèi)型
D、上述都對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上,如果兩種介質(zhì)的聲阻抗差別很小,則聲壓反射率()。
A、很大
B、很小
C、與兩種介質(zhì)有關(guān)
D、與聲速有關(guān)
最新試題
探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是()
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭移動(dòng)過(guò)程中同時(shí)作()轉(zhuǎn)動(dòng),稱為擺動(dòng)掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?;夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
題型:多項(xiàng)選擇題
在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí),如果重復(fù)頻率過(guò)高,儀器可能會(huì)產(chǎn)生()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
題型:多項(xiàng)選擇題
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。
題型:多項(xiàng)選擇題
采用兩個(gè)斜探頭(一收一發(fā))交叉()的掃查方式叫做交叉掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
為了提高探傷結(jié)果的可靠性,探傷前應(yīng)對(duì)被檢工件的()和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進(jìn)行調(diào)查。
題型:多項(xiàng)選擇題
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題