垂直法探傷時(shí)，對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會(huì)導(dǎo)致（）。

通用儀器對(duì)焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對(duì)靈敏度，以最大回波顯示的刻度來(lái)確定（）。

金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò)，放大倍數(shù)一般為（）倍。

探傷工藝流程中探傷技術(shù)規(guī)范主要指的是（）

探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法，它主要適用于（）的校對(duì)。

采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

鋼軌探傷車要求嚴(yán)格執(zhí)行（）的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)定，合理設(shè)置檢測(cè)參數(shù)，動(dòng)態(tài)保持良好耦合，確保取得可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì)，用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí)，需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。