A.小角上
B.大角上
C.短邊的鄰角上
D.長(zhǎng)邊的鄰角上
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.0°稍大
B.60°稍大
C.90°稍大
D.120°稍大
A.視準(zhǔn)軸
B.橫軸
C.指標(biāo)差
D.度盤分劃
A.整平后觀測(cè)下半測(cè)回
B.整平后重測(cè)整個(gè)測(cè)回
C.對(duì)中后重測(cè)整個(gè)測(cè)回
D.繼續(xù)觀測(cè)下半測(cè)回
自水準(zhǔn)點(diǎn)M(HM=100.000m)經(jīng)8個(gè)站測(cè)至待定點(diǎn)A,得hMA=+1.021m;再由A點(diǎn)經(jīng)12個(gè)站測(cè)至另一水準(zhǔn)點(diǎn)N(HN=105.121m),得hAN=+4.080m,則平差后的A點(diǎn)高程為()
A.101.029m
B.101.013m
C.101.031m
D.101.021m
A.11帶,66
B.11帶,63
C.19帶,117
D.19帶,111
最新試題
光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、()等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
水平角觀測(cè)誤差超限時(shí),下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是()。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用()
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于()。
偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和()
下列誤差中,()是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。
同步基線是利用同一時(shí)段的()同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。
四等導(dǎo)線測(cè)量全長(zhǎng)相對(duì)閉合差的限差規(guī)定為()。
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。