單項選擇題探傷時采用較高的探測頻率,可有利于()
A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B、區(qū)分開相鄰的缺陷
C、改善聲束指向性
D、以上全部
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1.單項選擇題超聲波檢驗中,當探傷面比較粗糙時,宜選用()
A、較低頻探頭
B、較粘的耦合劑
C、軟保護膜探頭
D、以上都對
2.單項選擇題用縱波直探頭探傷,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置()
A、在任何情況下都位于探頭中心正下方
B、位于探頭中心左下方
C、位于探頭中心右下方
D、未必位于探頭中心正下方
3.單項選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復頻率和下述哪個電路有關(guān)?()
A、報警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時基電路
4.單項選擇題探頭軟保護膜和硬保護膜相比,突出的優(yōu)點是()
A、透聲性能好
B、材質(zhì)聲衰減小
C、有利消除耦合差異
D、以上全部
5.單項選擇題窄脈沖探頭和普通探頭相比()
A、Q值較小
B、靈敏度較低
C、頻帶較寬
D、以上全部
最新試題
下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
題型:單項選擇題
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
題型:判斷題
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
題型:判斷題
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
題型:判斷題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認。
題型:判斷題
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質(zhì)量應符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
題型:判斷題
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。
題型:單項選擇題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
題型:判斷題
對于直徑Φ50mm導管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
題型:單項選擇題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題