A．顯極；
B．飽和點(diǎn)；
C．剩磁點(diǎn)；
D．殘留點(diǎn)
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A．絕對(duì)靈敏度；
B．相對(duì)靈敏度；
C．對(duì)比靈敏度；
D．以上都是
A.縱向磁化；
B.周向磁化；
C.高充填因數(shù)線圈磁化；
D.以上都不是
A．縱向磁化；
B．軸向磁化；
C．向量磁化；
D．平行磁化
A．連續(xù)法；
B．剩磁法
A．剩磁法；
B．連續(xù)法
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí)，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
一般說(shuō)來(lái)，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
磁場(chǎng)指示器是用于被檢工件表面磁場(chǎng)方向，有效檢測(cè)區(qū)及磁化方法是否正確的一種準(zhǔn)確的校驗(yàn)工具。
熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。