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A.考試方式包括筆試、操作考試以及必要的口試;考試內(nèi)容包括基礎(chǔ)技術(shù)和專(zhuān)業(yè)技術(shù)兩個(gè)部分
B.只要筆試和操作考試在80分以上,就免予口試
C.共培訓(xùn)練習(xí)用的試塊也可作為考試試樣
D.技術(shù)資格合格,筆試和操作考試平均在80分以上,報(bào)考人員就可以取得II級(jí)資格證書(shū)
A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米,槽深15微米
D.槽寬15微米,槽深100微米
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
儀器水平線性影響()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()是影響缺陷定量的因素。