單項(xiàng)選擇題探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致:()
A.Q降低,靈敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲區(qū)增大
D.Q值降低,分辨力提高
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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí):()
A.儀器分辨力提高
B.儀器分辨力降低,但超聲強(qiáng)度增大
C.聲波穿透力降低
D.對試驗(yàn)無影響
2.單項(xiàng)選擇題脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著:()
A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
3.單項(xiàng)選擇題使儀器得到滿幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V,現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為40mv,若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示,儀器放大器應(yīng)有多大增益量?()
A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
4.單項(xiàng)選擇題同步電路的同步脈沖控制是指()
A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
5.單項(xiàng)選擇題同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為()
A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
題型:單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項(xiàng)選擇題