A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
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A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間
D.以上都是
A、聲束細(xì),每次掃查探測區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測粗晶材料時(shí)信噪比高
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。