A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
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A.發(fā)射電路在單位時間內重復發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內重復掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時間內向工件重復輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
A.1―2個
B.數(shù)十個到數(shù)千個
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時間
D.以上都是
A、聲束細,每次掃查探測區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點
D、以上都是
最新試題
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
調節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。