單項選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)（）
A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度
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1.單項選擇題以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點（）
A.探測范圍大
B.盲區(qū)小
C.工件中近場長度小
D.雜波少
2.單項選擇題以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點（）
A.檢測精度高，定位定量準
B.頻帶寬，脈沖窄
C.可記錄存儲信號
D.儀器有計算和自檢功能
3.單項選擇題探頭軟保護膜和硬保護膜相比，突出優(yōu)點是（）
A.透聲性能好
B.材質(zhì)衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
4.單項選擇題采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（）
A、Z1＞Z2
B、C1＜C2
C、C1＞C2
D、Z1＜Z2
5.單項選擇題以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯誤的（）
A.爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫波斜探頭類似
B.當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測表層缺陷
D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)
最新試題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題