A.斜入射縱波
B.斜入射橫波
C.表面波
D.縱波雙晶片探頭
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你可能感興趣的試題
A.最下層板的孔周圍的裂紋
B.最上層板的孔周圍的裂紋
C.使聲波導(dǎo)入的那層板的孔周圍的裂紋
D.任何一層板的孔周圍的裂紋
A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都必須去除
A.波峰尖銳、前沿陡峭、波峰起伏變化快
B.波較寬、波尖多峰、伴隨雜波、起伏平緩
C.波幅較高、波峰起伏變化快
D.以上都可能
A.能夠清晰分辨孔壁信號和起始于孔壁的小裂紋信號
B.能夠獲得準確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號
D.以上都是
A.盡可能提高儀器增益;
B.利用被檢件的底面回波
C.利用被檢件的側(cè)壁回波;
D.利用被檢件的孔壁回波。
最新試題
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
單探頭法容易檢出()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。