A.0.25mm
B.0.125mm
C.1.0mm
D.1.5mm
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.陶瓷
B.石英
C.磁芯和線圈
D.導(dǎo)電金屬
A.提高表面分辨力
B.改變聲束入射方向
C.使聲束聚焦
D.以上都是
A.平底孔
B.V型槽
C.矩形槽
D.以上都是
A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
A.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力高,靈敏度低
B.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力低,靈敏度高
C.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力低,靈敏度高
D.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力高,靈敏度低
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()是影響缺陷定量的因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。