A.平底孔
B.V型槽
C.矩形槽
D.以上都是
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A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
A.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力高,靈敏度低
B.頻帶越寬,脈沖越寬,則分辨力低,靈敏度高
C.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力低,靈敏度高
D.頻帶越寬,脈沖越窄,則分辨力高,靈敏度低
A.減小盲區(qū)
B.使聲能集中在某一區(qū)域
C.提高信噪比
D.以上都是
A.提高近表面缺陷的探測能力
B.精確測量缺陷的尺寸
C.擴大掃查面積
D.增加探測深度
A.提高局部區(qū)域的檢測靈敏度
B.提高信噪比
C.提高局部區(qū)域的橫向分辨力
D.以上都是
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。