A.掃查空間小,僅能發(fā)現(xiàn)聲束軸線附近的缺陷
B.對于裂紋缺陷,不是近于垂直地射到裂紋面上不會產(chǎn)生足夠大的回波
C.對于粗晶材料往往得不到足夠的穿透力,使缺陷檢出困難
D.以上都是
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A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
A.縱波反射技術(shù)
B.透射技術(shù)
C.斜射橫波技術(shù)
D.以上都可以
A.10.0MHz
B.5.0MHz
C.2.5MHz
D.以上都可以
A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
A.對于信噪比要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
C.對于定量要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.對于定位要求高的情況,選擇垂直線性好的儀器
最新試題
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。