圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
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儀器水平線性影響()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是影響缺陷定量的因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。