圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷B探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷A探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測試橫波探頭示意圖,根據(jù)圖示判斷是以下哪個測試項(xiàng)目()
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。