圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況？（）
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
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圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷C探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目（）
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β，則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）是影響缺陷定量的因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。