目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。