底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。