A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能檢查
C.一般性能檢查
D.特殊性能檢查
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A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
最新試題
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()