A.波幅將增加或降低為原波高的1倍；
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍；
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍；
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
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A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對(duì)靈敏度、時(shí)間域響應(yīng)、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴(kuò)展特征、距離幅度特征
C.頻率響應(yīng)、分辨力、入射點(diǎn)或折射角
D.以上都是
A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時(shí)間
C.缺陷的指示長(zhǎng)度
D.以上都是
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。