問答題若晶片直徑D=24mm,頻率f=4MHz,聲速CL=6300m/s,求近場長度L0=?
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()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型:單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項選擇題
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:單項選擇題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
題型:單項選擇題