A.相位移將使陰極射線管上的波形向左或向右移動；
B.校準后，如果出現缺陷，陰極射線管上的波形向上或向下移動；
C.設備經調整後，磁導率和電導率變化時，狹縫值變化很小或無變化；
D.當電導率影響在水平線上顯示時，尺寸影響將不在狹縫上顯示
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你可能感興趣的試題
A.保證調整的重復性可靠性；
B.校準可檢出的缺陷的近似深度；
C.A和B；
D.測量試驗頻率.
A.使電磁場成形；
B.提高靈敏度；
C.提高分辯力；
D.以上都是；
E.以上都不是。
A.頻率、線圈電感、線圈電阻；
B.僅取決于線圈電感；
C.僅取決于線圈電阻和電感；
D.僅取決于頻率和線圈電阻；
E.僅取決于頻率和線圈電感.
A.將試驗頻率變?yōu)榭墒乖肼暅p小的頻率；
B.增大試驗儀器的放大倍數；
C.改善填充系數；
D.儀器中加濾波電路
A.試樣的電導率；
B.發(fā)射信號的大?。?br />
C.試樣的厚度；
D.試樣中存在缺陷.
最新試題
X光檢驗組按復查清單組織復查，并出具X光底片復查報告，復查無遺留問題方可進行試壓。
下面列出的確定透照布置應考慮的基本內容中，錯誤的是（）。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產品，工藝規(guī)程應作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
送檢產品工序狀態(tài)及表面質量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。
增加工藝性透視有利于保證焊接質量，因此盡可能增加工藝性透視次數。
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
提出有效磁導率的是下列哪位科學家（）
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
產品焊接接頭最終質量經X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應重新申請進行X射線檢測。