斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當降低。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。