A.了解檢測對象、獲取檢查程序
B.根據(jù)檢測對象選擇儀器、探頭和參考試塊
C.調(diào)定掃描范圍和靈敏度
D.評定和記錄檢查結(jié)果
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A.聲束從緊固件頭部入射時，將底波調(diào)至60%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時，將底波調(diào)至60%滿屏
C.無論聲束從哪端入射，均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.低稠度耦合劑不利于聲傳播
B.低稠度耦合劑容易進入搭接縫中，產(chǎn)生非相關(guān)顯示
C.高稠度耦合劑更適合帶有漆層的表面
D.高稠度耦合劑更容易去除
A.聲束從緊固件頭部入射時，將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時，將底波調(diào)至40%滿屏
C.無論聲束從哪端入射，均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動；
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動而移動；
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動而移動；
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
單探頭法容易檢出（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。