A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對
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A.與波速無關(guān)
B.與工件厚度有關(guān)
C.與探頭中心間距有關(guān)
D.與檢測聲波頻率有關(guān)
A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
A.反射率高，波幅高，探頭左右移動時波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時，反射波高大致相當(dāng)
C.當(dāng)探頭做定點轉(zhuǎn)動時，波幅高度下降速度較快
D.以上全部
A.反射率高，波幅高，探頭左右移動時波形穩(wěn)定
B.從焊縫兩側(cè)檢測時，反射波高大致相當(dāng)
C.當(dāng)探頭做定點轉(zhuǎn)動時，波幅高度下降速度較快
D.以上全部
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）是影響缺陷定量的因素。