單項選擇題半波高度(6dB)法測長適用于()

A、平底孔
B、粗細均勻的長條形缺陷
C、粗細不均勻的長條形缺陷


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1.單項選擇題超聲波檢測條件的主要考慮因素是()

A、工作頻率
B、探頭和儀器參數(shù)
C、耦合條件與狀態(tài)
D、探測面
E、材質(zhì)衰減
F、以上都是

2.單項選擇題缺陷反射聲能的大小,取決于()

A.缺陷的尺寸
B.缺陷的類型
C.缺陷的形狀和取向
D.以上全部

3.單項選擇題探傷時采用較高的探測頻率,可有利于()

A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷
B、區(qū)分開相鄰的缺陷
C、改善聲束指向性
D、以上全部

4.單項選擇題超聲波檢驗中,當探傷面比較粗糙時,宜選用()

A、較低頻探頭
B、較粘的耦合劑
C、軟保護膜探頭
D、以上都對

5.單項選擇題用縱波直探頭探傷,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置()

A、在任何情況下都位于探頭中心正下方
B、位于探頭中心左下方
C、位于探頭中心右下方
D、未必位于探頭中心正下方

最新試題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應立即()。

題型:單項選擇題

X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應重新申請進行X射線檢測。

題型:判斷題

X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。

題型:判斷題

缺陷分類應符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。

題型:單項選擇題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。

題型:單項選擇題

X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。

題型:判斷題