A.改變縱波入射角度以得到要求的橫波折射角度
B.通過電脈沖控制改變獨立晶片的角度
C.用計算機控制同步電路
D.改變發(fā)射和接收延時間隔調(diào)節(jié)角度
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A.探頭壓電晶片是一個整體
B.通過改變延時間隔,可以改變聲束焦距長度
C.不適用于復(fù)雜工件的檢測
D.不能進行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法
B.直射波法、斜射波法和衍射時差法
C.一次波法、一次反射法和板波法
D.以上都對
A.與波速無關(guān)
B.與工件厚度有關(guān)
C.與探頭中心間距有關(guān)
D.與檢測聲波頻率有關(guān)
A.平行于探測面的缺陷
B.與探測面傾斜的缺陷
C.垂直于探測面的缺陷
D.不能用斜探頭檢測的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷
B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
儀器水平線性影響()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
單探頭法容易檢出()。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。